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上海儀電物光顯微熔點(diǎn)測定儀價(jià)格表
點(diǎn)擊: 次 時(shí)間:2016-04-05 17:35
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產(chǎn)品型號 |
主要技術(shù)參數(shù) |
市場價(jià)格（元） |
優(yōu)惠價(jià)格（元） |
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熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 測量重復(fù)性： ±1℃ （在＜200℃ 時(shí)），±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)） 溫度顯示最小值：0.1℃ 熔點(diǎn)觀察方式 ：單目顯微鏡 光學(xué)放大倍數(shù) ：40× |
4800 |
3840 |
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熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 測量重復(fù)性： ±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）， ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)） 溫度顯示最小值： 1℃ 熔點(diǎn)觀察方式： 單目顯微鏡 光學(xué)放大倍數(shù) ：40× |
3800 |
3040 |
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熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 測量重復(fù)性： ±1℃ （在＜200℃ 時(shí)） ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)） 溫度顯示最小值：0.1℃ 熔點(diǎn)觀察方式： 雙目顯微鏡 光學(xué)放大倍數(shù)： 40-100X |
5800 |
4640 |